№ | Наименование работ | Сроки выполнения | Задействованное оборудование |
1 | Гос. задание № 124041100056-6 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 2. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 3.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; |
2 | Гос. задание № 124041100051-1 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 5. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 7. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 8. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; 9. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
3 | Гос. задание № 124041100050-4 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 2. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 3. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 4. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 5.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 6. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 7. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; 8. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 9. Газовый хроматограф с масс-спектрометрической
приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; |
4 | Гос. задание № 124041100048-1 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 2. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 3.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 4. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; 5. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 6. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ» |
5 | Гос. задание № 124041100047-4 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 5. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 7. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 8. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; 9. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
6 | Гос. задание № 124041100072-6 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 2. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 3. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 4. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 5.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 6. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; |
7 | Гос. задание № 124041100046-7 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 5. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 7. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 8. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; 9. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
8 | Гос. задание № АААА-А21-121012090006-0 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским 2. Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA |
9 | Хоз. договорные работы с ООО «Фирма ТЭК» | Январь 2025 – июнь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 2. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 3.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 4. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; |
10 | Хоз. договорные работы с КузГТУ | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 2. Газовый хроматограф с масс-спектрометрической
приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 3. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 4. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000; 5.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; |
11 | Хоз. договорные работы с НИИ КПССз | Май – Июнь 2025 | 1. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 2. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ» |
12 | Проект РНФ №23-13-00356 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 4. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 5. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020 |
13 | Проект РНФ 23-77-01067 | Январь 2025 – декабрь 2025 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 5. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 7. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 20005 8. Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA |
14 | Профилактика и регламентное обслуживание
оборудования | июль 2025 – август 2025 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр Bruker D8
А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM -
6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1 micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+ 300WB; 5. Синхронный термический анализатор Netzsch STA 409
Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр iCАР-6500 Duo LA; 7. Газовый хроматограф с масс-спектрометрической
приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 8. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 9. Анализатор поверхности и пористости Micromeritics
ASAP 2020; 10. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
