Технические характеристики: Режимы работы: • Режим контактной атомно-силовой микроскопии (C‐AFM): Сигналы: высота (по Z зонд‐образец), латеральная сила (LFM); • Режим полуконтактной атомно-силовой микроскопии (NC‐AFM): Сигналы: высота (расстояние по Z зонд‐образец), амплитуда/фаза колебаний кантилевера, контроль величин I/Q, латеральная сила (LFM); • Режим силовой спектроскопии: Построение графиков силы взаимодействия зонд ‐ образец от расстояния в точке и карт на участке образца в контактном или полуконтактном режимах • Электросиловая микроскопия (EFM): Определение контраста электрических свойств образца, локальная модификация образца под воздействием электрического поля кантилевера; • Магнитно‐Cиловая микроскопия (МFM): Определение контраста магнитных свойств образца; • Распределение потенциала на поверхности; • Режим СТМ (сканирующая туннельная микроскопия); • Среда: воздух, жидкость. Диапазон сканирования XY до 40мкм; диапазон по Z до 7 мкм; Размеры образца 15х7 мм (диаметр х толщина) Атомно-силовая микроскопия (АСМ) Топография поверхности Дефекты структуры поверхности Физико-химические свойства поверхности Электрические и магнитные свойства Механические свойства и пр. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) Топография поверхности Электронная плотность состояний Химическая неоднородность поверхности
|