В
соответствии с Регламентом доступа к оборудованию «Научно-аналитического центра
исследования состава и структуры углеродистых веществ» КемЦКП ФИЦ УУХ СО РАН на
основе заявок, принятых к исполнению, формируется план работы КемЦКП ФИЦ УУХ СО
РАН, содержащий информацию о текущей и планируемой загрузке оборудования.
Формирование,
корректировку плана работы и контроль за его реализацией осуществляет руководство
КемЦКП ФИЦ УУХ СО РАН по мере поступления заявок.
План
работы КемЦКП на 2023 г.
№ | Наименование работ | Сроки выполнения | Задействованное оборудование |
1 | Гос. задание № 121031500513-4 121033100144-8 | Январь 2023 – декабрь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1
micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+
300WB; 5. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр
iCАР-6500 Duo LA; 7. Газовый хроматограф с
масс-спектрометрической приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 8. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 9. Анализатор поверхности и пористости
Micromeritics ASAP 2020; 10. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
2 | Хоз. договор 065-1899/22 | Январь 2023 – июнь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1
micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+
300WB; 5. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр
iCАР-6500 Duo LA; 7. Газовый хроматограф с
масс-спектрометрической приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 8. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 9. Анализатор поверхности и пористости
Micromeritics ASAP 2020; 10. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
3 | Проект РНФ 22-13-00042 | Январь 2023 – декабрь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1
micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+
300WB; 5. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 7. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
4 | Проект РНФ 22-23-20153 | Январь 2023 – декабрь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1
micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+
300WB; 5. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6. Газовый хроматограф с
масс-спектрометрической приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 7. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 8. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
5 | Проект РНФ 22-13-20040 | Январь 2023 – декабрь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 4.Оптико-эмиссионный спектрометр
iCАР-6500 Duo LA. |
6 | Проект РНФ 22-13-20041 | Январь 2023 – декабрь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 4. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000; 5 .Оптико-эмиссионный спектрометр
iCАР-6500 Duo LA |
7 | Хоз. договор № 23-481-2 | Май 2023 – декабрь 2023 | 1. Рентгеновский порошковый
дифрактометр Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1
micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+
300WB; 5. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6. Газовый хроматограф с масс-спектрометрической
приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 7. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 8. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
8 | Профилактика и регламентное
обслуживание оборудования | июль 2023 – август 2023 | 1. Рентгеновский порошковый дифрактометр
Bruker D8 А25 ADVANCE; 2. Сканирующий электронный микроскоп
JEOL JSM - 6390LA с рентгеновским энергодисперсионным анализатором; 3. ЭПР-спектрометр Bruker ЕМХ- 6/1
micro; 4. ЯМР-спектрометр Bruker Avanse II+
300WB; 5. Синхронный термический анализатор
Netzsch STA 409 Luxx с масс-спектрометрической приставкой Аеоlos; 6.Оптико-эмиссионный спектрометр
iCАР-6500 Duo LA; 7. Газовый хроматограф с
масс-спектрометрической приставкой Agilent 6890N/5973 Inert MSD/DS; 8. ИК-Фурье спектрометр «ИНФРАЛЮМ»; 9. Анализатор поверхности и пористости
Micromeritics ASAP 2020; 10. CHNS/O-анализатор ThermoFlash 2000 |
|
№ пп |
Метод |
Ответственное лицо |
Расшифровка |
| 1 | NMR | Лырщиков С.Ю. | ЯМР спектроскопия |
| 2 | SEM | Созинов С.А.
| Электронный сканирующий микроскоп |
| 3 | ASAP | Зыков И.Ю.
| Анализатор пор и поверхности |
4
| IR | Лырщиков С.Ю.
| ИК спектроскопия |
5
| EPR | Захаров Н.С.
| ЭПР спектроскопия |
6
| XRD | Попова А.Н. | Рентгеновская дифрактометрия |
7
| iCAP | Колмыков Р.П.
| Атомно-эмиссионная спектроскопия |
8
| GCMS | Дикунова Т.В.
| Газовая хромотография с масс-спектрометрией |
9
| STA | Хицова Л.М. | Синхронный термический анализ |
10
| CHNOS | Малышева В.Ю.
| Анализатор CHNOS |
| | | |
