Услуги КемЦКП

  • Определение удельной поверхности, объема и размеров пор
  • Регистрация спектров ЯМР на ядрах 1H, 13С, 15N, 19F, 29Si, 31P, 77Se, 195Pt твердых непроводящих объектов и растворов веществ
  • Получение изображений поверхности объектов на атомно-силовом микроскопе
  • Получение изображений поверхности объектов на сканирующем электронном микроскопе
  • Определение химических элементов (от B до U) на поверхности твердотельных образцов и их картирование методом аналитической сканирующей электронной микроскопии
  • Регистрация ИК спектров пропускания и отражения для порошков, пленок и жидкостей  
  • Регистрация спектров ЭПР твердых и жидких веществ
  • Определение фазового состава неорганических веществ и материалов методом рентгеновской дифракции
  • Съемка рентгеновских дифрактограмм неорганических материалов при нагреве в инертной атмосфере
  • Определение массовой концентрации химических элементов (от Li до U) в неорганических веществах и материалах методом атомно-эмиссионной спектроскопии
  • Определение массовой концентрации С, Н, N, S, O в органических веществах и материалах
  • Анализ смесей предельных и непредельных углеводородов нормального и циклического строения, ароматических углеводородов, галогенпроизводных углеводородов, алкалоидов, метиловых эфиров жирных кислот методом хроматомасс-спектрометрии
  • Анализ состава смесей органических веществ с молекулярной массой менее 2000 ед., растворимых в воде или ацетонитриле, а также определение микропримесей (до 0,01%) в этих веществах, методом обращено-фазовой хроматографии
  • Определение молекулярно-массового распределения высокомолекулярных водо- и спирторастворимых соединений (4000-40000 Да), методом эксклюзионной хроматографии
  • Термогравиметрия и дифференциальный термический анализ веществ и материалов и масс-спектрометрия исходящих из печи газов.
  • Совершенствование и разработка новых методик анализа углей и продуктов их переработки