Группа электронной и зондовой микроскопии

Приборный парк включает в себя:

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM – 6390 LV с энергодисперсионным анализатором JED 2300. Производитель JEOL, Япония. Год ввода в эксплуатацию 2006.

Атомно-силовой микроскоп Cypher

Производитель Asylum Research, США. Год ввода в эксплуатацию 2012.

 

Специалисты:

Климович М.Ю.

Ведущий инженер. Окончил Кемеровский госуниверситет 1988г. Проводит исследования химического состава и морфологии поверхности методом аналитической электронной микроскопии.

Владимиров А.А.

Ведущий инженер. Окончил физический факультет Кемеровского госуниверситета в 2002 г.

Проводит исследования морфологии и физико-химических свойств поверхности методом зондовой сканирующей микроскопии.

Основные публикации:

  • Фотопроцесс в микрокристаллах AgBr в присутствии комплексных ионов Pt(II) И Pd(II). Сечкарев Б.А., Титов Ф.В., Салищееа О.В., Дягилев Д.В., Бодак К.А., Владимиров А.А., Шараева У.В. / Журнал прикладной химии. 2008. Т. 81. № 8. С. 1258-1262
  • Doping of AgHal heterophase grains by [IrCr6]3- ions.Sechkarev B.A., Titov F.V., Djagilev D.V., Bodak K.A., Vladimirov A.A. Imaging Science Journal. 2006. Т. 54. № 1. С. 46-52
  • Атомно-силовая микроскопия в исследовании наноразмерных частиц.
    Титов Ф.В., Владимиров А.А., Дягилев Д. В., Бодак К. А., Ларичев Т.А. Ползуновский вестник. – Барнаул, 2010. - № 3. - С. 77-80.
  • Влияние радиационных дефектов на эффективность функционализации углеродных нанотрубок: расчеты из первых принципов. Кособуцкий А.В., Шандаков С.Д., Севостьянов О.Г., Звиденцова Н.С., Рыбаков М.С., Владимиров А.А. Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. 2012. Т. 3. № 4. С. 003-007
  • Investigation of Crystallographic and AdsorptionProperties of TiO2 Powders. Sotnikova L. V., Vladimirov A. A., Dyagilev D. V., Larichev T. A., Stepanov A.Y. The Synthesis and Advanced Materials Research Vol. 704, 2013. - Р 92 - 97.